显微镜平台,太阳光模拟器,衍射光学元件,光束整形,分束镜,光谱仪,生物激光器,光束分析仪,Layertec
波前传感器
波前传感器

SID4紫外高分辨率波前传感器

基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术,高分辨率波前传感器SID4-UV可覆盖190-400 nm紫外检测波段,在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率(355x280测量点)和非常高的灵敏度(1 nm RMS)。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。

所属品牌: Phasics

负责人:孙工
联系电话:13692216712   电子邮箱:zmsun@welloptics.cn

产品介绍

190-400nm紫外相应高灵敏度的紫外高分辨率波前分析仪

基于独特的专利技术,法国Phasics公司的波前传感器具备高灵敏度及高相位分辨率的特点,即插即用的适用类型适用于大多数用户的应用环境。法国Phasics公司为用户提供两款紫外检测波前分析仪,SID4-UVSID4-UV-HR

相比之下,SID4-UV适用于250-400 nm波段的紫外光谱,250 × 250的取样分辨率、2 nm RMS的相位灵敏度以及7.4 × 7.4 mm²的靶面面积足以满足大部分用户需求,相比于SID4-UV-HR更具备成本效益,在满足用户使用需求的前提下有效的节约用户成本。

其中SID4-UV-HR作为SID4-UV的增强款,该设备在190-400 nm的紫外波段有着极高的相位分辨率(355×280取样分辨率)、极高的相位灵敏度(优于1 nm RMS)以及更大的靶面面积(13.8 x 10.88 mm²)。这使得SID4-UV-HR适用于光刻、半导体等领域,尤其适用于透镜或晶圆等的光学组件表征以及波前像差,波前曲线的波前探测需求。


高分辨率波前传感器应用领域:

-天文观测

-航空航天工业

-半导体加工

-工业激光

-光学元件及组装

-增强现实-虚拟现实

SID4-UV高分辨率波前传感器产品规格:

型号

SID4-UV

波长范围

250 - 400 nm

靶面尺寸

7.4 x 7.4 mm²

空间分辨率

29.6 µm

取样分辨率

250 x 250

相位分辨率

2 nm RMS

绝对精度

10 nm RMS

取样速度

30 fps

实时处理速度*

> 2 fps (全分辨率下)*

接口种类

以太网口

尺寸(宽xx长)

78 x 88.1 x 71.1 mm³

重量

575g

*使用官方电脑搭载SID4软件环境下


高分辨率波前传感器主要特点:

-190-400 nm紫外波段响应

-1 nm RMS高相位灵敏度

-355 × 280超高相位取样分辨率

紫外波前分析仪主要特点:

-250 - 400 nm紫外波段响应

-2 nm RMS高相位灵敏度

-250 × 250超高相位取样分辨率

高分辨率波前传感器产品应用:

-激光检测

-自适应光学检测

-等离子体检测

-光学元件及光学系统计量

SID4-UV-HR高分辨率波前传感器产品规格:

型号

SID4-UV-HR

波长范围

190 - 400 nm

靶面尺寸

13.8 x 10.88 mm²

空间分辨率

38.88 µm

取样分辨率

355 x 280

相位分辨率

1 nm RMS

绝对精度

10 nm RMS

取样速度

30 fps

实时处理速度*

> 3 fps (全分辨率下)*

接口种类

CameraLink

尺寸(宽xx长)

51 x 51.1 x 76 mm³

重量

300g

*使用官方电脑搭载SID4软件环境下


高分辨率波前传感器产品应用:

-激光检测

-自适应光学检测

-等离子体检测

-光学元件及光学系统计量

-波前曲线检测

相关产品

MTF测量仪

查看详情+

Phasics高分辨率相位成像相机

查看详情+

Phasics波前探测器

查看详情+
关于我们
公司简介 人才招聘
产品中心
衍射光学元件 光学平台 激光测量 激光器 镜片 晶体 光学仪器 光学配件 太赫兹
代理厂商
芬兰 以色列 德国 美国 立陶宛 加拿大 荷兰 英国 法国
技术咨询
光学单位换算 激光基础知识 激光行业资讯 激光技术文档
联系我们
联系方式 在线留言
0755 84870203

服务热线

网站地图