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特殊光束分析仪
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BeamOn LA U3光束分析仪

BeamOn LA U3光斑轮廓分析仪,200万的分辨率,有效探测面积直径60mm(校准直径55mm)的大面积有效探测

所属品牌: Duma Optronics

负责人:张育钦
联系电话:18927467725   电子邮箱:yqzhang@welloptics.cn

产品介绍

Ø55mm有效探测面积,200万分辨率,350-1150nm波长响应范围的大孔径

以色列DUMA在今年推出了BeamOn LA大孔径光斑分析仪的进阶款BeamOn LA U3光斑轮廓分析仪,它在拥有老款BeamOn LA的大面积的光斑探测基础上,提高了它的分辨率,由原本的40万分辨率提高到了200万的分辨率,同时BeamOn LA U3的探测面积也进一步的加大,由BeamOn LA原本的58x45mm有效探测面积到现在的直径60mm(校准直径55mm)的大面积有效探测,但同时为了平衡价格,避免涨价太多,相对应的降低了BeamOn LA U3的波长响应范围,最大只达到1150nm,让客户在波长范围不大,需要测大光斑并且高分辨率的情况下多一种选择。

BeamOn LA U3光束分析仪主要特点:

-实时光束尺寸分析和高斯拟合

-实时显示光束2D/3D

-高分辨率(1920x1200pixels

-大尺寸有效探测面积(Ø60mm,校准Ø55mm


BeamOn LA U3光束分析仪与 BeamOn LA光束轮廓分析仪对比如下:

BeamOn LA U3

BeamOn LA

光谱响应

350-1150nm

350-1310nm

分辨率

1920 x 1200

720 x 576

传感器有效面积(mm

Ø60mm(Ø55mm校准)

58 x 45

增益控制

X24 软件控制

6dB-60dB 16steps

光束分辨率

~100μm

-

光束精度

±2%

-

帧率Hz

25fps(min)

25max

灵敏度(在633nm波长下)μW/cm2

0.1

0.1

损伤阈值

100W/cm2(连续操作和冷却附件的接触系数)

100J/cm2(或最高200W/cm2

冷却条件

Filtered pressurized air of 6-8 bar

-

最小光束尺寸直径(mm

5

5

内置滑块衰减片

ND8,ND64,ND200, ND400, ND1000

接口

USB3.0

USB2.0

像素位深

12 bits

-

同步性

软件

硬件(外部触发信号)

功率要求

~2W(经过 USB3.0接口)

2.6W(经过USB2.0接口)

重量

1.1kg带线


大孔径光束分析仪订货信息:

BeamOn LA U3 VIS-NIR:光谱响应范围350-1150nm,系统包括传感器头,内置滑块一组衰减片,USB3.0,软件和带有操作说明的光盘/U盘,手提箱。


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